產品與服務

WAT device

可依客戶待測物材質及電路設計，提供最佳針痕及最低漏電流之測試方案，協助客戶確認晶圓是否完成晶圓接受測試。

規格

Pitch

>45µm

C.C.C

>1A

Force

1.5g~4g/mil

適用於406x/407x/408x 系列測試機。
漏電流可小至10fA。

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