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漢民測試成立於2004年，隨著半導體測試產業共同成長。20年來，我們累積豐富的技術實力，為半導體測試客戶提供全面的加值服務，包括銷售、安裝、技術支援、製程開發、移機以及客製化設計。
漢測的據點遍及台灣、中國、新加坡與日本，我們提供全方位的服務以滿足客戶的需求。
創立日期
西元 2004 年 9 月
創辦人
林淑玲
董事長
林冬青
總經理
王子建
員工總數
280人
主要營業項目
半導體測試及檢測設備、探針卡、零組件研發及製造
以卓越的產品開發與技術能力，打造高度客製化的測試解決方案，以成為半導體測試產業的標竿為目標，從封裝前晶圓測試到2D、3D缺陷檢測，漢測致力於把關客戶的產品品質，並在台灣和日本多處設置在地化製造產線及快速回覆的售後服務，提升生產效率與品質，持續推動半導體產業的發展，成為客戶最值得信賴的合作夥伴。
因應更高頻、高功率的晶圓需求，漢測提供各種針型、針種的晶圓探針卡，可應用於各式終端產品，包含HPC、5G、AIoT、電動車等高頻領域。我們專注於技術創新和品質保證，通過獨特的針型設計及製程手法，擁有散熱優異及高乘載電流等特點，確保產品在高頻環境下的穩定性和可靠性，有效提高探針卡的使用壽命。