產品與服務

Logic device

適用於Logic IC測試,可測試平台 (e.g. J750/V9300/M2/C3650/STS, etc.),可耐受高電壓高電流。

Cantilever

規格

Pitch

>45µm

C.C.C

>1A

Force

1.5g ~ 4g / mil

Cantilever 懸臂式探針卡

  1. 最小待測物尺寸:30um * 30um
  2. 最小待測物間距:45um

Vertical

規格

Pitch

>50µm

C.C.C

500mA~1.6A

Force

0.5g ~ 3g / mil

Vertical 垂直式探針卡

  1. 最大針測行程(OD):200um
  2. 最小待測物間距:50um
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