產品與服務

LCD Driver device

適用於液晶顯示器驅動IC測試，可測試細間距及金凸塊裝置，採用耐高溫、耐用的探針材質。

規格

Quad-tier

> 9µm

Tri-tier

> 11µm

Stagger

> 14µm

inline

> 22µm

DUT

1 x 2

Max DUT：1 x 2（平行/雙列分佈）。
最小間距：9um（Quad-tier）至22um（Inline）。

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